[07.05.2014]
Компания FARO Technologies Inc. выпустила новую версию своего программного обеспечения для измерительного оборудования CAM2 Measure 10.3, которая предоставляет своим пользователям возможность обработки результатов как контактных, так и бесконтактных измерений (используя технологию лазерного сканирования). Программа CAM2 Measure 10.3 может совместно работать с любым метрологическим оборудованием FARO и прекрасно подходит для решения задач контроля качества производимой продукции методом сравнения с CAD-моделью изделия.
Новые функции, такие как «Анализ Сечения», «Регистрация Облака Точек», «Маркеры Отклонений», а также улучшенный процесс сканирования, позволяют пользователю эффективнее собирать данные и анализировать облако точек. Новые возможности упрощают и ускоряют процесс измерения, помогая оператору при контактных измерениях и лазерном сканировании.
Функция «Анализ Сечения» позволяет провести 2D-анализ отсканированных данных в определённой области CAD-модели. Пользователи могут извлечь размеры (радиус, угол, высота) для анализа, добавить маркеры для обозначения места, где метки покажут отклонения, и установить наилучший вид для отчёта.
Анализ сечения в CAM2 Measure 10.3
С помощью функции «Регистрация Облака Точек» пользователь может объединить два (или более) разделённых в пространстве облака точек, используя их общую часть. Это очень удобно, когда необходимо установить в новое положение частично отсканированную деталь (или переместить измерительное устройство в новое положение), чтобы снять облако точек с другой стороны детали.
Благодаря функции «Маркеры Отклонений» пользователь может заранее обозначить те области, где будет необходим более детальный анализ. Программное обеспечение упрощает процесс измерения, показывая пользователю те области, где должны быть собраны данные.
Улучшенный процесс сканирования позволяет пользователям быстро сканировать детали сложной формы и производить контроль в реальном времени: в процессе сканирования программа предоставляет возможность оценки отклонений от номинальной поверхности на основе цветового спектра, позволяющего быстро и легко выявить все несоответствия.
Спектр отклонений поверхности детали от CAD модели
